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熒光X射線測量儀XDL ®系列

熒光X射線測量儀XDL ®系列

更新日期：2024-05-14

訪問量：972

廠商性質：經銷商

生產地址：

簡要描述：
熒光X射線測量儀XDL ®系列
FISCHERSCOPE ® X 射線 XDL ®
配備正比計數器 （PC） 的熒光 X 射線膜厚測量儀。它是一種易于使用的桌面類型，并具有各種 XY 平臺的陣容。

熒光X射線測量儀XDL ®系列

熒光X射線測量儀XDL ®系列

日本進口fischer熒光X射線測量儀XDL ®系列

特征

  • 外殼有一個狹窄的開口（C 槽），可以測量大的板狀樣品。
  • 帶有可編程 XY 平臺的型號可實現自動連續測量 (XDL 240)

主要規格

模型XDL 210、XDL 230、XDL 240
測量元件范圍鈦 (22) -U (92)
X射線探測器比例計數器 (PC)
X射線管標準（W 目標）
初級過濾器1種固定
準直器數量/尺寸1型固定/Φ0.3mm
車身尺寸570 x 760 x 650mm（寬 x 深 x 高）
能量消耗高達 120W
XY平臺XDL210：固定式
XDL230：手動型
XDL240：電動型

主要應用

  • 電鍍件的測量
  • 電子元件/半導體行業中的功能性多層膜測量
  • 印刷電路板行業中的Au、Pd、Ni薄膜測量

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